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离线式IC/QFN引线框架视觉检测机

离线式IC/QFN引线框架视觉检测机,针对高密度IC及QFN引线框架的全自动检测设备,检测方式:离线式双面连续检测。

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引线框架视觉检测设备系列


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产品描述

离线式IC/QFN引线框架视觉检测机 

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检测方式:离线式双面连续检测

检测效率:6~8 SEC/PC

检测性能:

表面缺陷(污渍、发黄、变色,水渍、过蚀出现沙孔、鍍区偏移、缺银和漏银)最小检测宽度≤0.05mm,长度≤0.05mm;

尺寸缺陷(变形、不完全蚀刻)最小检测宽度≤0.025mm,长度≤0.025mm。

 

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我司设备已经获得国家多项专利,仿制必究!

 

创新设计

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●奥美特的设备产品由国际化研发团队设计,采用多项自主研发的专利技术。

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●研发设计项目的系统化管理,运用可视化的3D设计软件设计,所见即所得,缩短设计周期及避免设计数据的错误。

 

加工细节

用精细的做工来展现合理和创新的设计。

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设备用料

奥美特坚信:只有采用可靠的原材料和元件,才能制造出性能稳定可靠的设备

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服务

请利用我们多年积累的专业知识,让您的项目收益。

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●专业服务团队由经验丰富的机械工程师、技工、电气工程师、电化学工程师组成。

●设备紧急问题全国1小时响应机制。

●提供免费物流服务,设备的包装及装卸由我们负责,途中运输零风险。

 

奥美特实力

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奥美特专注与持续的投入,只为了能成为您事业发展的坚实后盾!