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产品描述
离线式IC/QFN 引线框架视觉检测机
检测产品:蚀刻后或电镀后IC/QFN 引线框架
检测方式:离线式双面连续检测
检测效率:6-8PCS/SEC
检测性能:表面缺陷(污渍、发黄、变色、水渍、过蚀出现沙孔、镀区偏移、缺银和漏银)
检测最小缺陷: 宽度≤ 0.05mm,长度≤ 0.05mm; 尺寸缺陷(变形、不完全蚀刻)
检测最小缺陷:宽度≤ 0.025mm，长度≤ 0.025mm
检测产品规格:长度160-300mm，宽度30-110mm
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